Reinheitsprüfung von Kupfer durch Leitfähigkeitsmessung
Verunreinigungen in Kupfer können die elektrische Leitfähigkeit und Leistungsfähigkeit von Bauteilen mindern. Die Leitfähigkeitsmessung mit SIGMATEST prüft die Reinheit schnell und zuverlässig.
Die Herausforderung
Bei Anwendungen wie elektrischer Abschirmung oder Leitungsfertigung beeinflusst die Reinheit von Kupfer maßgeblich die Leistungsfähigkeit. Bereits geringe Legierungsabweichungen verringern die elektrische Leitfähigkeit und können hohe Kosten verursachen. Sowohl Rohmaterialhersteller als auch Weiterverarbeiter müssen daher die Materialreinheit zuverlässig prüfen.
Die Lösung
Das SIGMATEST 2.070 sowie das SIGMATEST TCM misst die elektrische Leitfähigkeit mittels Wirbelstromverfahren mit hoher Genauigkeit. Reines Kupfer weist einen Leitfähigkeitswert von etwa 58 MS/m auf. Abweichungen deuten auf Verunreinigungen oder Legierungsbestandteile hin. Mit einer Messfrequenz bis 960 kHz und Sonden ab 3,5 mm Durchmesser lassen sich auch dünne Bleche und feine Drähte präzise prüfen.
Das Ergebnis
Die zerstörungsfreie Messung ermöglicht eine schnelle Kontrolle der Kupferreinheit im Wareneingang oder während der Fertigung. Reines Kupfer und Legierungen lassen sich sicher unterscheiden. Die kompakte und wirtschaftliche Lösung reduziert das Risiko von Fehlchargen und unterstützt eine effiziente Qualitätssicherung.
Die Produkte
Leitfähigkeitsmessung
SIGMATEST
Tragbares Leitfähigkeitsmessgerät für die schnelle und zuverlässige Prüfung nicht-ferromagnetischer Metalle
Leitfähigkeitsmessung
SIGMATEST TCM
Messung der elektrischen Leitfähigkeit nicht-ferromagnetischer Metalle